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試驗A |
工作壽命測試(+125°C,5.5 V,1000小時) |
機械驗證測試(X射線,尺寸,絲印,引線完整性) |
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儲存壽命測試(+150°C,無偏壓,1000小時) |
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溫度循環測試(-55°C至+125°C,1000次循環) |
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偏壓溫度濕度測試(+85°C,85%相對濕度,5.5 V,1000小時) |
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無偏壓防潮測試(85°C,85%相對濕度,1000小時) |
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試驗B |
機械壽命測試(沖擊試驗200 g,30次循環),然后進行溫度循環測試(–55°C至+125°C,1000次循環) |
機械壽命測試(振動10 g,x、y、z軸5 Hz至2 kHz,30小時),然后進行偏壓溫度濕度測試(+85°C,85%相對濕度,5.5 V,1000小時)。 |
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1024位1-Wire EEPROM |
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受保護的1 kb 1-Wire EEPROM,采用SHA-1引擎 |
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受保護的1 kb 1-Wire EEPROM,采用SHA-1引擎 |
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1-Wire EEPROM |
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DeepCover®安全認證器,具有1-Wire SHA-256和512位用戶EEPROM |
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DeepCover安全認證器,具有1-Wire SHA-256和4 kb用戶EEPROM |
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DeepCover安全認證器,具有1-Wire ECDSA和1 kb用戶EEPROM |
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1-Wire 4 kb EEPROM |
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1024位1-Wire EEPROM |
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具有ChipDNA® PUF保護的DeepCover安全ECDSA認證器 |
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具有ChipDNA PUF保護的DeepCover安全SHA-3認證器 |
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DeepCover耐輻射1-Wire安全認證器 |
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